关于共模反馈检测电阻下并联电容的问题

UESTC-ADC · 发表于 2013-10-17 15:52:40

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最近在一篇关于全差分开关电容放大器的论文中看到的一个问题，在运放的共模检测上并联了两个电容，如下图。
QQ截图20131017154801.png

关于这两个电容的作用原文中有下面一段描述：
C3 and C4 are for high frequency compensation.When signal reaches very high frequency, the parasitic capacitors of M13 and M14 will significantly influence operation of OTA. With C3 and C4 dominates than those parasitic ones, this high frequency effect can be weaken considerably.

但看了以后还不是很明了，
首先M13，M14的寄生电容是怎么影响运放工作的？
其次加入这两个电阻以后他又是如何消除这些影响的？

有没有哪位前辈或大神遇到过这个问题的，还望不吝赐教！
在这里跪谢了！

UESTC-ADC · 发表于 2013-10-17 15:54:22

自己先顶一个

UESTC-ADC · 发表于 2013-10-17 16:08:37

再顶一下，貌似人们都去讨论IC就业前景了。。。

UESTC-ADC · 发表于 2013-10-17 16:32:11

回复 4# kwankwaner
嗯，有道理，多谢大神点拨，再等等看还有没有其他解释。

UESTC-ADC · 发表于 2013-10-17 17:54:03

回复 4# kwankwaner

我想了一下，高频下那两个电容不是会把输出端短路掉？？？

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