TSMC28工艺的PERC中关于电阻的问题。

yl心在路上 · 发表于 2016-6-28 21:48:32

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I/O pad下面diode到电源clamp之间连线电阻过大怎么解决，并且它是怎么计算阻值的？求助。

15008229548 · 发表于 2016-7-5 21:13:16

个人看法，可以尝试将多层金属线通过通孔，形成之间的连接线，相当于多个阻值并联，可以达到降低阻值的效果

Snowy2016 · 发表于 2016-7-6 10:27:28

计算阻值请参考公式R=（L/W）x R口
其中L和W分别为跑线的长度和宽度，R口为对应跑线metal的方块值，这个值得大小请查fab提供的design rule文件，xrc的pex文件里边可能也有。
如果不是一层metal叠加，需要计算并联电阻。

okfunny · 发表于 2016-7-9 00:27:27

多叠金属多打空

smilyrong · 发表于 2017-8-18 10:21:09

回复 1# yl心在路上

麻烦请问一下你使用perc 查t28的esd问题是基于芯片级还是IP？我现在遇见一个问题，我基于芯片级查esd，发现工具会把每一个std都查一遍，且会报没有电阻的问题，不知道你是否遇见过类似的问题？

yuniang · 发表于 2017-8-18 11:07:19

回复 5# smilyrong

理论上是基于芯片级的实际perc的rule有通查,同时也会check单个pad的ESD和LUP rule

smilyrong · 发表于 2017-8-18 14:15:13

回复 6# yuniang

尴尬的是我发现不仅查了pad，连core区域的dcap cell也查了，就会报很多No resistor isused的error！寻遍所有的rule也没有找到一个option是控制不查cell的

yuniang · 发表于 2017-8-18 15:38:42

回复 7# smilyrong

根据你的描述，这个问题产生的原因或许是在查ESD二级保护的一个200欧母的电阻？

smilyrong · 发表于 2017-8-18 16:19:37

回复 8# yuniang

对的，现在工具认为这个cell需要这个电阻，但实际上这是一个std cell，根本不需要检查

yuniang · 发表于 2017-8-18 16:26:31

回复 9# smilyrong

理论上ESD结构是需要这个电阻的，如果manager不能waive，可以std cell外加上电阻再接进去

[求助] TSMC28工艺的PERC中关于电阻的问题。