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[求助] 微带线阻抗测试的问题

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发表于 2015-3-18 09:21:37 | 显示全部楼层 |阅读模式

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各位前辈好:     最近在测试一款产品的微带线阻抗时,厂家提供了两种测试方法
(1)TDR测试法
这种测试方法测试可以测试出一段连续的阻抗出来。但是我没看到有关于频率的概念在里面。请问这个有人清楚吗?
(2)smith圆阻抗发
这种测试方法只是可以测试某一个频率点的阻抗?不同频率点就有不同的smith圆图?

期待各位前辈释疑,谢谢。
发表于 2015-3-18 10:47:38 | 显示全部楼层
TDR:Time-Domain Reflectometry ,通过时域方法来量测,肯定看不到频率了;Smith:通过频域的方法来量测,在Smith原图上应该体现为一段圆弧线。百度内有大把关于阻抗测试的文章,可以多看看。
发表于 2015-3-18 13:58:27 | 显示全部楼层
TDR是时域,smith是频域
 楼主| 发表于 2015-3-18 16:27:17 | 显示全部楼层
回复 2# 罗林


非常感谢您的解答。
那我再请教一下,因为阻抗在低频和高频时是有一定的区别的,那用TDR测试的结果和频率无关,那就是测试结果不是很准确了?
发表于 2015-3-19 08:24:05 | 显示全部楼层
TDR是时域,但是也可以知道频率(因为 t=1/f、f=1/t)、TDR最早的应用可以推导至有线电视建设的时候,为了知道缆线断在哪里!
Smith是频域但是它所能看到的不只是阻抗这么简单,(因为 R±Jw、其中w=2*pi*frequency)
发表于 2015-3-19 09:46:52 | 显示全部楼层
是没有直观的看到频率,不是和频率无关,另外精度的话,看你工作的频率多高了,10GHz以上,个人建议采用smith法。
发表于 2015-3-21 18:02:39 | 显示全部楼层
解释的很好
发表于 2015-4-2 14:44:09 | 显示全部楼层
TDR 是實域反射的結果,也就是你看到的是線上不同點的阻抗分佈,每當有結構變化時,波經過結構不連續點所產生的反射會不同造成TDR阻抗會有變化,例如: 轉角、線寬變化、線距變化等等,看TDR可以看出結構對於阻抗的變化。

Smith圖看的是頻域,也就是整體結構在不同頻率下的饋入端口阻抗值,看這個可以知道在不同頻率時的阻抗變化。

兩種阻抗的應用不同,要看你需要哪方面的阻抗去決定。
 楼主| 发表于 2015-4-8 11:32:28 | 显示全部楼层
非常感谢各位。
 楼主| 发表于 2015-4-10 09:20:11 | 显示全部楼层
请教大家一下,TDR方法测试PCB板上阻抗的时候,我如果将PCB板上电让它工作起来,这个时候的测得的阻抗值有没有什么意义呢?或者说这种方法就不正确?
谢谢
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