微带线阻抗测试的问题

huangxiaodong · 发表于 2015-3-18 09:21:37

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各位前辈好：最近在测试一款产品的微带线阻抗时，厂家提供了两种测试方法
（1）TDR测试法
这种测试方法测试可以测试出一段连续的阻抗出来。但是我没看到有关于频率的概念在里面。请问这个有人清楚吗？
（2）smith圆阻抗发
这种测试方法只是可以测试某一个频率点的阻抗？不同频率点就有不同的smith圆图？

期待各位前辈释疑，谢谢。

罗林 · 发表于 2015-3-18 10:47:38

TDR:Time-Domain Reflectometry ，通过时域方法来量测，肯定看不到频率了；Smith:通过频域的方法来量测，在Smith原图上应该体现为一段圆弧线。百度内有大把关于阻抗测试的文章，可以多看看。

alienwarexie · 发表于 2015-3-18 13:58:27

TDR是时域，smith是频域

huangxiaodong · 发表于 2015-3-18 16:27:17

回复 2# 罗林

非常感谢您的解答。
那我再请教一下，因为阻抗在低频和高频时是有一定的区别的，那用TDR测试的结果和频率无关，那就是测试结果不是很准确了？

foxman_1 · 发表于 2015-3-19 08:24:05

TDR是时域，但是也可以知道频率（因为 t＝1/f、f＝1/t）、TDR最早的应用可以推导至有线电视建设的时候，为了知道缆线断在哪里！
Smith是频域但是它所能看到的不只是阻抗这么简单，（因为 R±Jw、其中w＝2*pi*frequency)

罗林 · 发表于 2015-3-19 09:46:52

是没有直观的看到频率，不是和频率无关，另外精度的话，看你工作的频率多高了，10GHz以上，个人建议采用smith法。

milerwan · 发表于 2015-3-21 18:02:39

解释的很好

311412 · 发表于 2015-4-2 14:44:09

TDR 是實域反射的結果，也就是你看到的是線上不同點的阻抗分佈，每當有結構變化時，波經過結構不連續點所產生的反射會不同造成TDR阻抗會有變化，例如: 轉角、線寬變化、線距變化等等，看TDR可以看出結構對於阻抗的變化。

Smith圖看的是頻域，也就是整體結構在不同頻率下的饋入端口阻抗值，看這個可以知道在不同頻率時的阻抗變化。

兩種阻抗的應用不同，要看你需要哪方面的阻抗去決定。

huangxiaodong · 发表于 2015-4-8 11:32:28

非常感谢各位。

huangxiaodong · 发表于 2015-4-10 09:20:11

请教大家一下，TDR方法测试PCB板上阻抗的时候，我如果将PCB板上电让它工作起来，这个时候的测得的阻抗值有没有什么意义呢？或者说这种方法就不正确？
谢谢

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