流片芯片测试

XIDIANCAD2 · 发表于 2012-8-21 09:56:15

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芯片流片回来测试发现，本来I2C的寄存器在复位时的值是固定的，但测试发现有几个寄存器在复位后读它们的值时发现会在几个值之间变化，I2C的读写功能是没有问题的。真不知道怎么回事，麻烦大家给个建议。谢谢！

creese · 发表于 2012-8-21 19:42:55

流片前做FPGA验证了吗？

XIDIANCAD2 · 发表于 2012-8-21 20:02:49

回复 2# creese

用FPGA验证过的！

conghung2012 · 发表于 2012-8-22 10:28:55

这应该是on wafer test的知识了，找专门的人问一下。

yckai007 · 发表于 2012-9-1 22:33:33

复位放开的时候有clock没，如果有可能会出现。复位应该同步放开

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