关于DFT的问题？

abao123 · 发表于 2011-10-17 15:30:06

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在综合DFT时，对于TestMode这个type可以不要不？
我的想法是主时钟和scan clock为同一个时钟，scan_se为使能信号，scan_se=0为功能模式，scan_se=1为DFT模式
请问这样能实现吗？另外对于综合后DFT的检测标准是什么呢？覆盖率除外。
谢谢！

bingling512 · 发表于 2011-10-17 17:19:47

不能用scan_se做为DFT模式选择！dft模式下面的测试项不止scan，比如还有mbist……

综合后的网表一般做一个dft的drc check（主要是针对scan）就可以了。

icfbicfb · 发表于 2011-10-17 20:21:35

不是有at speed测试么，就是用func clock做scan clock啊，

大体上是可行的，

abao123 · 发表于 2011-10-17 21:31:31

谢谢各位！此设计中只有DFT,没有mbist
所以就考虑不要TestMode。
再问下对于scan clock、scan_se是不是必须为IO，可不可以用内部的pin来代替！

kevinht · 发表于 2011-10-17 23:28:14

大体可行，我们也是这么做的，function clock和scan clock大部分路径是一样的

bingling512 · 发表于 2011-10-18 08:51:42

如果只做scan测试感觉好像是可以的。。
之前没有这么做过，请教两个个问题，麻烦帮忙解答一下：
寄存器se端是连接到scan_se上的吗？
stuck-at和transition测试capture时钟如何提供的？

abao123 · 发表于 2011-10-18 10:06:54

寄存器se端是连接到scan_se上的，每个都要连上；
对于故障模型这个不是很懂，没有涉及到

bingling512 · 发表于 2011-10-18 11:07:26

stuck-at跟transition测试一个主要测固定fault另一个测时序方面的fault，主要区别在于capture时钟是低频的dft时钟还是at-speed的系统时钟。

如果se连接到scan_se上那shift时用dft时钟，capture时用at-speed的功能时钟，这种结构下面功能时钟是从端口直接给的吗？没有经过OCC吧？

abao123 · 发表于 2011-10-21 14:24:53

回复 8# bingling512

做DFT的时候还要考虑功能时钟吗？好像不需要了吧！！
你这么一说，感觉很多东西都不懂！

icfbicfb · 发表于 2011-10-21 15:04:12

这种就是用 func clock来做测试，和at speed类似

省一个clock input

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