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[资料] SEMICONDUCTOR MATERIAL AND DEVICE CHARACTERIZATION

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发表于 2011-3-27 21:09:22 | 显示全部楼层 |阅读模式

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SEMICONDUCTOR MATERIAL AND DEVICE CHARACTERIZATION 第三版,A JOHN WILEY & SONS, INC., PUBLICATION
非常详细的半导体材料和器件的表征、测试、分析

Semiconductor Material and Device Characterization.pdf

12.44 MB, 下载次数: 632 , 下载积分: 资产 -5 信元, 下载支出 5 信元

半导体材料和器件表征

发表于 2011-3-28 09:28:36 | 显示全部楼层
it's  a good material for studying failure mechanism of ICs.
发表于 2011-3-28 16:52:37 | 显示全部楼层
已經有了..但還是謝樓主
发表于 2011-4-4 18:40:45 | 显示全部楼层
大力支持好东西
发表于 2011-4-5 09:12:12 | 显示全部楼层
good.
发表于 2011-4-8 13:57:16 | 显示全部楼层
谢谢您的分享,大力支持
发表于 2011-4-17 04:12:38 | 显示全部楼层
已有该书,还是要谢谢楼主共享!!
发表于 2011-4-17 22:44:00 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享!
发表于 2011-5-7 02:10:05 | 显示全部楼层
发表于 2011-5-8 12:36:33 | 显示全部楼层
谢谢楼主
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