使用DFT为什么比传统测试的覆盖率要高?

伊露凌 · 发表于 2009-10-21 15:10:51

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AmoiBB · 发表于 2009-11-11 22:10:06

thank you for sharing

forry · 发表于 2009-11-18 14:58:19

请问DFT如何实现，在后端插入如何插入扫描链，能把前端后端整个设计过程具体讲述下码？谢谢高手回答

syncom · 发表于 2009-11-18 20:43:54

傳統測試是function,
DFT 是針對每一個 gate /DFF來做測試.
DFT 到達100%,不代表你的IC的function會work.

whxqq · 发表于 2009-11-18 20:46:53

提高了可控制性和可观察性

wutong1104 · 发表于 2009-12-2 15:40:56

DFT 可不可以理解为多个测试方法的集合？但是说DFT的测试更有效和覆盖度越高，是不是可以理解为他在产品设计前所考虑到的测试因素更多引起的？

birdshanshan · 发表于 2009-12-2 21:53:22

我想楼主说的所谓”传统的测试“，大概就是指设计者自己写的功能向量了。这种向量在简单电路的情况下，也许还能覆盖多一些。但是随着电路复杂度越来越高，基本上没有可能通过外部输入来控制里面所有触发器到各种所需 ...
eestone 发表于 2008-12-3 22:22

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不太认同这位兄弟的观点：）
以下说的是芯片流程的，软件测试的兄弟不要有反感啊。
“测试”是说一个东东是否被正确的生产出来；
“验证”是逻辑是否实现了正确的功能。
即DFT（Design For Test）和Function Verification关注的是完全不同的方面，没有见过在DFT 上验证逻辑是否实现了正确的功能的。

annlin0301 · 发表于 2009-12-4 08:19:47

传统的测试應該是指function test ,coverage 要高,有相當的難度,dft 並不是在以function的觀念測的,是以stuck at fault 在測的,所以測的是IC 製造的缺陷,所以就算是DFT Coverage 100%,也不代表你的function沒問題,只是生產出來的ic沒問題

jery_cn · 发表于 2009-12-8 13:40:41

一个是有针对性的测试，一个是抽象的测试。所以效果不一样。

handsomehhj · 发表于 2009-12-19 22:38:20

SCAN 当然高

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