|
马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。
您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册
×
想请问大佬们关于STARRC和XACT结果对比;针对同一gds, 同一种工艺文件
测试layout: 画了一跟长为3微米,宽为0.4微米,厚度为0.85微米的金属;在其距离底端0.1微米和2.9微米的位置各打了一个同样名字的label;
工艺文件:XACT和STARRC工艺文件写的是,该金属的宽为0.4微米时,其方块电阻为0.02
XACT抽取结果如下:(HSPICE)
电容 0.374112f
电阻: 0.14; (Property: w=0.40000, thickness=8.5E-07, awidth=0.40000, connect_rule_num=-1.0000, orig_a = 3.00000, orig_b = 5.00000, rlength = 2.80000)
STARRC抽取结果如下:(STAR)
*|NET sm1_t1 0.000577833PF
*|P (sm1_t1 B 0 2.200 2.100) // $llx=2.200 $lly=2.100 $urx=2.200 $ury=2.100 $lvl=2
Rxsm1_t1 sm1_t1 F6 0.001
Cg4_1 38 0 5.77833e-16 $lvl=2
R4_1 F6 40 0.07 $l=1.400 $w=0.400 $lvl=2
R4_2 F6 39 0.005 $l=0.100 $w=0.400 $lvl=2
R4_3 F6 38 0.1 $l=2.800 $w=9.000 $lvl=2
R4_4 38 40 0.07 $l=1.400 $w=0.400 $lvl=2
R4_5 38 41 0.005 $l=0.100 $w=0.400 $lvl=2
1. 为什么STARRC结果中会多了R4_3 F6 38 0.1 $l=2.800 $w=9.000 $lvl=2 ?
2. 为什么STARRC的电容抽取结果比XACT大一些?两者具有可对比性吗?
|
|