芯片失效分析:bin62、bin55、bin6

bubushenghua

1.是与存储器相关的。
请问前辈们，有关于bin55、bin62、bin6的具体资料吗？

jinfeier

请问，这些是不同的测试项吧，这个是不是内部人为定义的呢

bubushenghua

谢谢回复。有可能是。我也是从周会上听同事们讨论了解到的。