芯片失效分析:bin62、bin55、bin6

bubushenghua · 发表于 2025-9-9 09:35:53

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1.是与存储器相关的。
请问前辈们，有关于bin55、bin62、bin6的具体资料吗？

jinfeier · 发表于 2025-9-10 14:29:45

请问，这些是不同的测试项吧，这个是不是内部人为定义的呢

bubushenghua · 发表于 2025-9-10 17:34:15

谢谢回复。有可能是。我也是从周会上听同事们讨论了解到的。

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