V93K测试机，测试完SCAN pattern 后，将fail的行以及对应的pin 保存在log中

GRITG · 发表于 2025-8-25 13:43:02

求助，

现在有一些问题，需要将测试完SCAN pattern后，IC fail的行以及对应的PIN，给自动保存在数据中（表格或者文本），不良IC 太多了，能否在V93K测试机上自动保存这些信息？求指点

LXRN · 发表于 2025-8-26 23:52:27

试试Error map 功能

GRITG · 发表于 2025-8-27 09:17:47

LXRN 发表于 2025-8-26 23:52
试试Error map 功能

这个只能单颗测试手动保存，因为有几百颗需要分析，要是每颗手动保存，太费机时了

LXRN · 发表于 2025-8-27 22:59:36

问一下供应商，应该是可以的

hjq1990 · 发表于 2025-9-5 14:15:14

tml里面有现成的test method的，叫scan_test。里面有一些配置，如果想要做的更高级，可以将source code给copy 出来再进一步优化，可以实现自定义存放路径以及命名。

GRITG · 发表于 2025-9-5 15:37:45

hjq1990 发表于 2025-9-5 14:15
tml里面有现成的test method的，叫scan_test。里面有一些配置，如果想要做的更高级，可以将source code给c ...

感谢，查找TDC了，看到这个是每颗测试log可以保存文本的，去试试去

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[求助] V93K测试机，测试完SCAN pattern 后，将fail的行以及对应的pin 保存在log中