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[求助] V93K测试机,测试完SCAN pattern 后,将fail的行以及对应的pin 保存在log中

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发表于 7 小时前 | 显示全部楼层 |阅读模式
悬赏50资产未解决
求助,

现在有一些问题,需要将测试完SCAN pattern后,IC fail的行以及对应的PIN,给自动保存在数据中(表格或者文本),不良IC 太多了,能否在V93K测试机上自动保存这些信息?求指点

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