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[求助] scan仿真和实测

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发表于 前天 13:54 | 显示全部楼层 |阅读模式

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目前用tetramax推数字部分的stuck at pattern,顶层作为模拟。
现在出现仿真和实测结果不一致,我的仿真环境是用TOP去仿真的,将pattern加入相关scan PAD 的端口,为啥实测出来scan_out不一样呢?
大佬们有啥建议可以交流下,感激不尽。

发表于 昨天 11:45 | 显示全部楼层
仿真的时候不是有串行和并行吗,串行是逐一将pattern移进扫描链,并行是直接force每一个扫描单元的输入,建议debug的时候用并行,然后你去找到报告中显示与预期值不一致的单元,去看这个单元的SI,SE,CLK,D,Q等波形,自己去推测一下shift和capture的预期结果,相信你这时候就会发现问题所在
 楼主| 发表于 6 小时前 | 显示全部楼层


cs1998 发表于 2025-6-5 11:45
仿真的时候不是有串行和并行吗,串行是逐一将pattern移进扫描链,并行是直接force每一个扫描单元的输入,建 ...


非常感谢大佬,另外我想请教下scan_out的结果除了和scan_in有关,和PI值有关系吗?
发表于 2 小时前 | 显示全部楼层


jinfeier 发表于 2025-6-6 10:20
非常感谢大佬,另外我想请教下scan_out的结果除了和scan_in有关,和PI值有关系吗?
...



scan_out的结果除了和scan_in有关,和PI值有关系
原因如下:

                               
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我是这么理解的,PI,PO是原芯片的输入输出,是真实存在的,PPI和PPO是虚拟的,是观测的输入输出,SI对应scan in,SO对应scan out
在运行scan链的时候,执行步骤如下
打开SE,进入测试模式,在SI上产生测试用的激励,将每个寄存器shift进合适的值
然后关掉SE,进入功能模式,
给PI添加合适输入,这里PPI和PPO都已经产生,但在内部电路里,没法观测
PO是组合逻辑路径,此时可以直接观测
PPO还需要一个capture时钟,将其寄存在D触发器里,接下来就仅仅是将PPO移出到SO
关闭SE,进入功能模式,将每个寄存器存储的PPO移出

如果有理解错误,请各位同仁指正
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