scan仿真和实测

jinfeier

目前用tetramax推数字部分的stuck at pattern，顶层作为模拟。
现在出现仿真和实测结果不一致，我的仿真环境是用TOP去仿真的，将pattern加入相关scan PAD 的端口，为啥实测出来scan_out不一样呢？
大佬们有啥建议可以交流下，感激不尽。

cs1998

仿真的时候不是有串行和并行吗，串行是逐一将pattern移进扫描链，并行是直接force每一个扫描单元的输入，建议debug的时候用并行，然后你去找到报告中显示与预期值不一致的单元，去看这个单元的SI，SE，CLK，D，Q等波形，自己去推测一下shift和capture的预期结果，相信你这时候就会发现问题所在

jinfeier

cs1998 发表于 2025-6-5 11:45
仿真的时候不是有串行和并行吗，串行是逐一将pattern移进扫描链，并行是直接force每一个扫描单元的输入，建 ...

非常感谢大佬，另外我想请教下scan_out的结果除了和scan_in有关，和PI值有关系吗？

cs1998

jinfeier 发表于 2025-6-6 10:20
非常感谢大佬，另外我想请教下scan_out的结果除了和scan_in有关，和PI值有关系吗？
...

scan_out的结果除了和scan_in有关，和PI值有关系
原因如下：

                               
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我是这么理解的，PI，PO是原芯片的输入输出，是真实存在的，PPI和PPO是虚拟的，是观测的输入输出，SI对应scan in，SO对应scan out
在运行scan链的时候，执行步骤如下
打开SE，进入测试模式，在SI上产生测试用的激励，将每个寄存器shift进合适的值
然后关掉SE，进入功能模式，
给PI添加合适输入，这里PPI和PPO都已经产生，但在内部电路里，没法观测
PO是组合逻辑路径，此时可以直接观测
PPO还需要一个capture时钟，将其寄存在D触发器里，接下来就仅仅是将PPO移出到SO
关闭SE，进入功能模式，将每个寄存器存储的PPO移出

如果有理解错误，请各位同仁指正