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查看: 518|回复: 8

[求助] 关于SAR ADC DNL优化

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发表于 2025-1-31 22:43:24 | 显示全部楼层 |阅读模式
100资产
对于一个12bit,高5位电容+低7位电阻的做法。想请教2个问题
1、最差DNL理论上是不是在 最高位比较结束,开始比较次高位的时候。
2、没有校准,电容采用温度计码。什么切换算法能够改善DNL

提前谢谢各位

 楼主| 发表于 5 天前 | 显示全部楼层
顶一下
 楼主| 发表于 4 天前 | 显示全部楼层
发表于 3 天前 | 显示全部楼层
一般不是高位电阻+低位电容吗
发表于 3 天前 | 显示全部楼层
1、如果是全二进制编码的话,是从01111 到 10000 DNL最大

2、如果温度计编码的话,不校准的话,高位按照温度计切换,DNL表现最好;加上其他轮转切换的算法,DNL测试时,可能跳变的码不在某个固定的地方出现,但是总体来讲是会变大的,因为相比于温度计码不加轮转,更多的有失配的电容参与进来了,会是DNL增大。
 楼主| 发表于 3 天前 | 显示全部楼层


JialiHou 发表于 2025-2-6 14:39
1、如果是全二进制编码的话,是从01111 到 10000 DNL最大

2、如果温度计编码的话,不校准的话,高位按照温 ...


多谢回复。我理解的 sar 是从最高位开始的所以最差DNL 在次高位比较的概率最大。这个时候切换的电容理论上最多,并没有从 011到 100  这变化,不知理解是否合理。
另外你说的轮转是一种切换算法吗,类似 DWA 那种
 楼主| 发表于 3 天前 | 显示全部楼层


jx2016 发表于 2025-2-6 13:42
一般不是高位电阻+低位电容吗


低位电阻单调性好一些吧
发表于 3 天前 | 显示全部楼层


ftr123 发表于 2025-2-6 15:27
多谢回复。我理解的 sar 是从最高位开始的所以最差DNL 在次高位比较的概率最大。这个时候切换的电容理论 ...


DNL最差的点是由于从10000 到 01111变化时,所有电容都发生了一次翻转,这是的跳变,这个step引起的误差是所有电容的方差之和,所以DNL最大;采用温度计码后,就不存在这样相临的code,所有电容都变化的情况了,相邻的码,变化的电容较少。所以DNL会改善。

DWA是其中的一种,如果SAR本身经过校准或者没有校准,加上DWA这类算法后,可以改善INL,动态性能上可以把谐波变成噪声,这种可以做成本征线性ADC(参考ISSCC 2022)。但是DNL我理解有没有改善是不太好说的,相邻的码,变化的电容又会变多,但是测试中,每次同样的码对应的电容又是不一样的。
 楼主| 发表于 3 天前 来自手机 | 显示全部楼层


JialiHou 发表于 2025-2-6 15:35
DNL最差的点是由于从10000 到 01111变化时,所有电容都发生了一次翻转,这是的跳变,这个step引起的误差 ...


是的,这个算法对    DNL 是否有用我也比较疑惑,更多的还是动态性能优化。
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