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[求助] ATE测试机动态负载的疑问

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发表于 昨天 15:45 | 显示全部楼层 |阅读模式

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在芯片管脚OS测试中,可以采用向量法测试开短路。测试电路里面有一个“动态负载”,它关联到一个VTT参数
动态负载的结构和原理如图,
当负载需要的电流在有源负载设置的最大电流范围内时,IO输出电压可以达到VTT
当负载电流超出有源负载设置时,外部电压高于VTT,是灌电流;外部电压低于VTT,是拉电流

请教大家,动态负载电路,左边的运放和二极管桥臂起什么作用?






屏幕截图 2025-01-12 153520.png
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