一种十纳秒/微米级分辨率热能分布的表征方法

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       小弟最近在一篇古早文献里看到一种基于激光干涉的方式对器件在接受ESD应力的情况下内部热场分布的技术，文内称其为TIM(Transient Interferometric Mapping technique）的技术。通过这个技术，似乎可以分析ESD器件在工作的情况下空间和时间上的热场分布，以及纳秒级别电流熔丝移动的现象。
       作者基于这种表征方法提取了器件在ESD应力下对应的热场分布和电流分布，分析了插指器件在插指内的工作模式。
       小弟想问的是：这种表征方式在目前的第三方实验室里，有类似的项目吗？




文章DOI:10.1016/j.sse.2004.11.022