量产芯片长时间跑之后，基准源会不会变化？

wang.bin · 发表于 2024-8-12 16:02:37

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

x

如题，如果量产芯片，目前看内部带隙基准源温度特性是OK的，但是几年长时间跑之后，工艺是否会偏差，导致带隙基准有偏差？

xdlaizq · 发表于 2024-8-12 18:05:06

EM就是验证这个问题的，运行十年，温度125度

acging · 发表于 2024-8-12 18:35:38

器件Vth会随时间变化的，有的工艺提供aging model评估其影响。

sea11038 · 发表于 2024-8-13 09:13:05

这个肯定是会有偏差的，所以才有可靠性设计和可靠性仿真验证

Sirit · 发表于 2024-8-13 13:52:55

一般来说要根据芯片应用需求进行对应的DFR设计和验证，在满足sign off标准下才能TO的

[求助] 量产芯片长时间跑之后，基准源会不会变化？