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查看: 739|回复: 5

[求助] 关于28nm工艺下的尺寸限制

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发表于 2024-8-2 18:49:14 | 显示全部楼层 |阅读模式

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在28nm下,会有尺寸的限制。我在做电流镜时,希望得到更大的L来减小失配,比如我设置L为3u,但是就会有warning,说最大的限制是2u。然后我采用了另一种方法来增加mos管的L,就是拉扎维书上的串联mos管结构,两个串联的mos管相当于一个W/2L尺寸的mos管。等效的L实际是4u了,这也是超过了工艺限制的最大尺寸2u。那么我采用串联的mos管的方法是否违背了28nm工艺的规则?会不会对后续哪个工艺流程有影响?这样的方法在28nm下是否合理?    希望大家不吝赐教!!!

waring

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第二章习题的串联mos管

第二章习题的串联mos管

第五章的串联mos管

第五章的串联mos管
发表于 2024-8-2 19:21:15 | 显示全部楼层
合理的,而且性能比单个L=4u mos好。
发表于 2024-8-3 13:41:10 | 显示全部楼层


nanke 发表于 2024-8-2 19:21
合理的,而且性能比单个L=4u mos好。


为什么呢?
 楼主| 发表于 2024-8-5 09:18:24 | 显示全部楼层


nanke 发表于 2024-8-2 19:21
合理的,而且性能比单个L=4u mos好。


佬 我也想问问为什么性能还比单个L=4u的更好呢?还想问问在28nm这种工艺下,为什么尺寸还会有限制?
发表于 2024-8-5 15:41:00 | 显示全部楼层
这类似于最小单元化设计,unit cell,小单元级联比大单元好的是在于他的mismatch会好很多,相当于我一次性做一个4u的管子,我可能上下偏差百分之十,但是单元化设计,unit cell,我一个高百分之五,一个小百分之五,相当于总长度的没变,换种思维,类似于两个正态概率密度函数相乘,方差变小。
 楼主| 发表于 2024-8-6 14:29:27 | 显示全部楼层


Eclipse17 发表于 2024-8-5 15:41
这类似于最小单元化设计,unit cell,小单元级联比大单元好的是在于他的mismatch会好很多,相当于我一次性 ...


清楚不少了
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