在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 399|回复: 1

[求助] 使用FPGA实现EDT DC/AC Scan有谁搞过?

[复制链接]
发表于 2024-7-17 19:29:45 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
前置条件:芯片内已实现EDT EDT DC/AC Scan相关的逻辑插入;
测试环境:FPGA和DUT位于同一个测试板上,DUT的DFT测试所需的所有signals都进FPGA,FPGA工作在100MHz。
测试pattern:Tessert生成的压缩后EDT_*.wgl文件, 基于scan channel的pattern
实现目标:基于FPGA进行DUT的EDT AC/DC scan测试;
大致过程:解析wgl文件 转换成 FPGA易于处理的waveform,生成测试波形 灌入DUT,scan out实时分析结果,并给出诊断位置。
请问,说做过这个类似的项目,或者有相关资源推荐。
发表于 2024-10-29 11:06:05 | 显示全部楼层
这是让FPGA代替ATE数字板卡了
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-25 13:52 , Processed in 0.014984 second(s), 7 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表