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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › IEEE 1149.6 standard doc
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[资料] IEEE 1149.6 standard doc

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wdp1990
发表于 2024-1-10 14:29:40 | 显示全部楼层 |阅读模式

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IEEE 1149.6 手册，需要自取。

IEEE Std 11496-2003, IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital.pdf

1.61 MB, 下载次数: 36 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

1149.6
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im.leo
发表于 2024-1-10 15:10:01 | 显示全部楼层
多谢分享 多谢分享 多谢分享
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313949724
发表于 2024-1-10 23:30:54 | 显示全部楼层
谢谢
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jimcmwang
发表于 2024-1-11 10:53:55 | 显示全部楼层
IEEE Std 11496-2003, IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital.pdf  1.61 MB, 下载次数: 10 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元  1149.6
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