关于器件过冲问题

Wzx_imos · 发表于 2024-1-8 19:30:30

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

x

使用两种不同的TLP系统对同一个器件进行设计，为什么vf-TLP系统测得的 “过冲” 小，而TLP系统测得的 “过冲 ”大一点呢？
下图是我在最近一篇论文上看到的数据图片：

sutaotao2001 · 发表于 2024-1-9 01:46:01

估计建模不同？

sutaotao2001 · 发表于 2024-1-9 01:51:00

在分布电容和原阻抗的差异

fj0510 · 发表于 2024-1-10 17:16:01

这个确实挺反常，正常来说上升沿越陡峭过冲越严重。我更倾向与它的这个Bi-PNP存在一定的RC或者GC触发特性，使其在面临快速的瞬态脉冲时更快开启，降低过冲。
我看过的另一篇文章里的这一张图片则暗示vf-TLP的电压过冲是要比TLP更严重的。

893038219 · 发表于 2024-3-12 23:33:35

俺是来学些的

[求助] 关于器件过冲问题