在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 1023|回复: 1

[求助] BCD工艺的HVNW带NBL和不带NBL对latch up的影响

[复制链接]
发表于 2024-1-3 17:00:02 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
最近在用tsmc .18 BCD工艺,发现当两个HVNW连到不同pad时,如果两个HVNW都不在NBL内,则DRC对两个HVNW距离的要求比较低,而如果其中一个在NBL内则要求两个HVNW的距离要求就很高,想请问一下从原理上要如何理解这样的DRC,为什么在NBL内的HVNW会更加危险,因为从剖面图上看这两者的深度是差不多的?
Snipaste_2024-01-03_16-59-49.png
发表于 2024-1-3 23:26:20 | 显示全部楼层
耐压的区别吧
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-22 06:51 , Processed in 0.014093 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表