关于芯片OS失效分析

delift · 发表于 2023-12-11 11:17:45

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请教各位前辈，最近碰到一个GPIO对地OPEN的问题，封装厂提供的IV曲线是加压测流的方式测试的，请问下大家加压测流的方式如何通过IV曲线判断是OPEN/Short的情况

ps.之前看到的相关资料都是通过加流测压的方式来判断，拿到加压测流的IV曲线有点看不太明白了，网上也没有查到相关的资料，希望大家能够指点，谢谢

delift · 发表于 2023-12-11 11:27:15

补充图片如下

sjx20032004 · 发表于 2023-12-11 15:22:32

一般是在-3V---3V之间，给不同的电压，测量不良的电流，形成I-V曲线，直观一点就是良品和不良品做一个曲线对比，你会发现良品的I-V曲线和不良品区别还是很大的

delift · 发表于 2023-12-11 16:26:05

sjx20032004 发表于 2023-12-11 15:22
一般是在-3V---3V之间，给不同的电压，测量不良的电流，形成I-V曲线，直观一点就是良品和不良品做一个曲线 ...

明白了，这就去要一份良品的曲线对比下看看，感谢指点

sjx20032004 · 发表于 2023-12-13 11:06:11

可以看看这个链接的介绍http://www.360doc.com/content/22 ... 29_1014356231.shtml

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