TLP 测试双折返点是什么原因？

fengluan83 · 发表于 2023-9-23 17:04:22

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芯片设计有两个脚需要承受负电压，
在芯片测试的时候发现这两个脚如果接入负电压，有概率的产生大电流，反复实验，电压值的负值约小，产生大电流概率约大，怀疑触发了latchup。
如果给这两个芯片脚加上电容在接负电压，则产生负电流的概率大大降低。
测试芯片的TLP曲线，容易产生大电流的引脚的TLP曲线产生了双折返，而另一个引脚正常。
两个引脚的ESD结构一致，连接的电路有差异。
但是正常不发生大电流的时候都可以承受更大的负电压。
请问下可能是电路引起的还是ESD器件引起的。

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