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查看: 833|回复: 2

[求助] Tessent 数模混合芯片,模拟顶层,数字模块进行DFT设计

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发表于 2023-8-23 22:31:00 | 显示全部楼层 |阅读模式

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请问如何在数字模块physical_block级别上添加TAP ,既可以直接在数字模块内使用JTAG 端口去控制TAP进行MBIST测试?我每次都是只能生成IJTAG信号,求大佬赐教。。

另外想问问如果要实现MBIST scan EDT OCC,至少需要几个端口?
 楼主| 发表于 2023-8-24 11:19:06 | 显示全部楼层
顶一下
发表于 2023-8-25 18:25:03 | 显示全部楼层
tessent不支持在physical_block上产生tap controller
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