请问PR之后再利用atpg生成pattern这一步要注意什么

hanxinwang · 发表于 2023-8-16 11:39:51

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一个电路从刚开始分析scan到插入scan到利用atpg生成测试向量都没问题，小弟最近在尝试PR之后，因为寄存器会reorder什么的，想重新生成pattern再与之前的比对，但是发现这一步并不容易，请教各位大神，这一步应该怎么样做？需要用到哪些文件

DFTbin · 发表于 2023-8-31 17:11:45

1. 请问想对比什么呢？
2. 将pr后网表替换掉pr前的网表，在atpg中重新生成测试向量即可，如何不容易呢？
3. 用到的文件应当就是PR后网表了。

你懂程序吗 · 发表于 2023-9-1 10:14:38

reorder 之后在scandef中会记录，你可以对比看看

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