新版latchup测试标准 JESD78F.01

fei_SH · 发表于 2023-4-19 10:24:57

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新版latchup测试标准 JESD78F中对很对特殊Pin的latchup测试和设置做了补充，并提出了IO Pin的E-test代替I-test，有大神能解读解读吗？

hankex · 发表于 2023-4-19 15:20:31

多謝分享...

521lkh · 发表于 2023-4-20 14:55:37

并提出了IO Pin的E-test代替I-test----------并不是替代，只是作为补充，，，，，既可以选择IT，也可以ET，主要看应用场景，，，，，不过IT还是主流

313949724 · 发表于 2023-6-2 22:50:44

谢谢

yw8381 · 发表于 2023-11-5 17:46:22

感谢楼主分享

18271571115 · 发表于 2023-11-11 21:39:35

这个对于了解latchup很有帮助，3Q！

hxxskylark · 发表于 2023-11-16 11:03:32

谢谢分享，IC测试正好需要

pennyxm · 发表于 2023-11-16 16:36:35

thank you very much

tm1986 · 发表于 2023-11-24 12:51:50

thank you very much

franzjoseph · 发表于 2023-12-19 17:39:13

标准里不是写了吗，很多pin的current forcing本质上还是提升电压实现的，所以其实是个E-test

[资料] 新版latchup测试标准 JESD78F.01