ADC 失调电压问题

zhhaocheng

你说的单端是指一组DAC的单端，还是两组DAC的伪差分。如果是前者，建议检查采样时的电荷注入问题

ZX25R

zhhaocheng 发表于 2023-6-19 14:39
你说的单端是指一组DAC的单端，还是两组DAC的伪差分。如果是前者，建议检查采样时的电荷注入问题 ...

就一组 差分输入  ，电荷注入仿真是看不到的，如何检查？

hebut_wolf

ZX25R 发表于 2023-3-3 16:01
这个是DNL 和INL  ，INL分段大概率是 架构和电容匹配问题， VIN=2V ，VREF=2V 结果偏小2LSB左右  ；V ...

lz 根据INL和DNL的图 以及你主贴的描述，你的问题似乎不仅是offset还包括斜率变化。（两者同时存在？）
建议按照下面的顺序排查：
1. 用低速时钟测试，排除setup等瞬态问题；
2. 检查verf通路，是否存在小电流漏电，确认内部vref和外供vref相同；
3. 检查采样电路，排除采样开关引起的电荷注入（电荷注入量跟电源电压相关）；
4. 多测几颗芯片，观察offset以及斜率变化的分布，如果离散性较大，可能是失配；如果一致性较大，则可能是电路固有问题。

我不太认同前面几位说的比较器offset问题，因为比较器offset与电源很难有关联（除非latch失调占主要部分）。