rom mbist测试原理

gaishiqicai

最近学mbist，insert mbist后做仿真验证，工具提示“no error betwen simulated and expceted patterns”，然后检查仿真波形GO和DONE都在bist_setup和bist_en之后拉高，看上去确实也仿真通过了，打开一个rom memory interface的电路波形，检查rom的Q输出波形发现也是rom code一致。

问题是发现Q端的输出并没有送到control模块去比较，同时也没有发现有外部的数据（例如rom code）通过pattern由jtag接口送到interface模块或control模块与Q的输出比较。个人理解是rom模块的测试算法是read_only，原理应该是工具通过pattern控制把rom当前的存储值写出来，然后再与pattern读入的rom code比较，但是现在发现仿真波形与个人理解不大一样，请问工具结果报仿真通过是拿什么与rom 的Q输出比较呢？还是仿真其实有问题？

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你可以追一下Q往哪里驱动了，一般是驱动到一个增加的CRC模块，ROM BIST最终是通过CRC来判断的；每个地址都比对的话，需要新增一个区域存储数据，而且新增的区域也有生产出错的可能；

matlab5000

好东西

matlab5000

好东西，多学习。