你好,器件结构如下图。目前,我得知NBL开slot是为了减小其杂质浓度提高与它形成的PN结的击穿电压,还有就是实际工艺中这些slot是连接起来的,不知道是否是这样呢? 还有一个疑问就是图中采用在NDRF和Gate中间加了SAB,然后采用CM层(Contact hole of metal1 to metal0 文件中原话)将NDRF连接了其他电位(有些连pbody中P+的,也有连pbody中N+的,还有连gate的),目前我认为这种结构是为了提高耐压,防止gate和NDRF接触处被击穿,但这和接不同电位有啥关系呢?也就是说这种结构提高耐压的机理是啥呢?