[原创] Electrical Overstress Robustness and Test Method for ICs,求

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shake2004

发表于 2022-10-30 20:24:44 | 显示全部楼层 |阅读模式

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Alain Kamdem, Normandie Universite, Presto Engineering; Patrick Martin, Fanny Berthet, Bernadette
Domengès, Dominique Lesenechal, Normandie Universite; Jean-Luc Lefebvre, Presto Engineering;
Pierre Guillot, NXP Semiconductors, “Electrical Overstress Robustness and Test Method for ICs”,
EOS/ESD Symposium, 2014
谢谢啊

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