在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
123
返回列表 发新帖
楼主: sjc1192001

[求助] ESD 器件之间的会不会出现Latch Up 问题?

[复制链接]
发表于 2023-7-27 16:40:05 | 显示全部楼层
确信是latch-up,形成了PNPN结构,PNPN依次是lpnp的E,BE的N-WELL,P-SUB以及ggnmos的P-WELL,最后是source的N+。当从VCC打正压时,会构成latchup的必要条件。拉间距可以理解成SCR器件中的提高BV的动作,这样在做ESD的时候不达到它的BV,就不会烧
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-13 03:34 , Processed in 0.012200 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表