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[资料] 【Springer】好书推荐,器件中的热载流子退化 hot-carrier-degradation-in-semiconductor-devices

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发表于 2022-9-15 23:45:19 | 显示全部楼层 |阅读模式

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很好的阐述了器件的热载流子退化原理

hot-carrier-degradation-in-semiconductor-devices-2015.pdf

21.47 MB, 下载次数: 101 , 下载积分: 资产 -7 信元, 下载支出 7 信元

发表于 2022-9-16 07:42:34 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2022-9-16 08:55:08 | 显示全部楼层
论文合集
发表于 2022-9-16 10:00:25 | 显示全部楼层
感谢分享
发表于 2022-9-16 10:02:37 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2022-9-16 15:25:37 | 显示全部楼层
Thanks
发表于 2022-9-16 17:23:05 | 显示全部楼层
发表于 2022-9-16 20:13:19 | 显示全部楼层
kananaa
发表于 2022-9-17 19:15:24 | 显示全部楼层
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发表于 2022-9-17 19:22:27 | 显示全部楼层
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