SDM采样保持开关的选取问题

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在仿真中发现ADC采样保持开关的尺寸对sdm输出性能影响较大；

尝试在TTTT 25℃ 将开关尺寸调优之后在高低温，高低压的情况下有效位数衰减较为严重；

这个有什么方法可以debug不？

在VDD=5V情况下，ENOB=15，但VDD=3V情况下，ENOB=10；两者差异较大；

将运放更换为理想运放，VDD=3V时，有效位数并没有提升，可以排除运放的影响；

单从高低压角度来看，VDD的变化会对开关有啥影响不？