请教下大家,最近公司想把testcase仿真做成function test pattern,以便ATE测试,查看了下手册,对于non-scan function pattern如何生成有以下疑问:
1、non-scan function pattern如何生成?区别于struct pattern可以ATPG自动生成,non-scan function pattern能否软件生成
2、non-scan function pattern这种测试我理解需要设计环回通路,将待测模块输出环回到芯片管脚输出,以便做result check?
请大家不吝指教,谢谢