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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC验证 › IC验证资料 › Digital System Test and Testable Design
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[资料] Digital System Test and Testable Design

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craybird
发表于 2022-1-28 01:01:00 | 显示全部楼层 |阅读模式

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Digital System Test and Testable Design
Using hdl Models and Architectures


 Springer Science+Business Media, LLC 2011



Digital System Test and Testable Design by Z Navabi.pdf

11.58 MB, 下载次数: 121 , 下载积分: 资产 -4 信元, 下载支出 4 信元
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im.leo
发表于 2022-1-28 13:46:42 | 显示全部楼层
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lans0625
发表于 2022-1-28 16:44:28 | 显示全部楼层
thanks
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dcircuit
发表于 2022-1-28 22:34:49 | 显示全部楼层
kanakna
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313949724
发表于 2022-1-29 19:31:42 | 显示全部楼层
谢谢分享
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rnysun
发表于 2022-1-29 22:15:39 | 显示全部楼层
thanks
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ichsim
发表于 2022-2-5 10:58:37 | 显示全部楼层
谢谢分享
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icroad
发表于 2022-2-10 21:33:30 | 显示全部楼层
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yuanpin318
发表于 2022-2-11 13:25:22 | 显示全部楼层
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zhsh94
发表于 2022-2-18 19:39:35 | 显示全部楼层
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