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楼主: 752917622

[求助] 关于插scan chain的问题(数模混合)

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 楼主| 发表于 2021-12-17 15:41:21 | 显示全部楼层


jake 发表于 2021-12-17 13:11
RTL 阶段插入 scan mux, scan loopback。
跑 TetraMAX 的时候写一个 digtop_tmax 或 chip_top,仅仅用于 ...


嗯嗯 ,明白了,我试试,非常感谢!

另外还有一点比较疑惑,就是我们的设计数字电路大概有1500个D触发器,从测试成本和测试时间来考虑(scan 的pin可以适当多些),一般插几条chain比较合适?这里chain的条数的定义一般是怎么评估的呢?
 楼主| 发表于 2021-12-17 16:34:42 | 显示全部楼层
嗯嗯 ,获益匪浅!
 楼主| 发表于 2021-12-17 17:44:26 | 显示全部楼层


jake 发表于 2021-12-17 13:11
RTL 阶段插入 scan mux, scan loopback。
跑 TetraMAX 的时候写一个 digtop_tmax 或 chip_top,仅仅用于 ...


哇,老哥你真牛!!!!  想必你是经常做这种类型的scan chain吧!

按照你的方法加了wrapper,ATPG一跑,覆盖率直接从80%左右提高到99%。

YYDS!!


 楼主| 发表于 2021-12-17 18:05:21 | 显示全部楼层


jake 发表于 2021-12-17 13:11
RTL 阶段插入 scan mux, scan loopback。
跑 TetraMAX 的时候写一个 digtop_tmax 或 chip_top,仅仅用于 ...


既然都问了这么多了,咱再厚着脸皮再问问:

1.之前几天仅仅是把DFT流程跑通,没有关注测试模式下timing的问题,我想问下在测试模式下,scan的时钟和scan的信号怎么约束,和function 模式结合起来约束又该如何考量(是不是要用set_case_analysis之类的命令)? 实际跑function的频率就几十M,这种测试模式下需要有at-speed的考虑吗?
2.假设后期芯片流片回来,在进行scan测试时,我们DFT这边需要怎么去测或者说怎么去配合?如果测试发现有问题,又如何的debug问题呢?
3.另外老哥能否留个联系方式(微信或者QQ),方便交个朋友么, 冒昧打扰了!

发表于 2021-12-18 00:28:51 | 显示全部楼层


752917622 发表于 2021-12-17 04:05
既然都问了这么多了,咱再厚着脸皮再问问:

1.之前几天仅仅是把DFT流程跑通,没有关注测试模式下timing ...


1. Timing 分析可以用 MMMC (multi-mode multi-corner)。Mode 分成两个,func_mode, scan_mode,写两个 SDC。
func_mode SDC 第一句: set_case_analysis 0 [get_port scan_mode*]
scan_mode SDC 第一句: set_case_analysis 1 [get_port scan_mode*]
scan_mode SDC 里 create_clock -name scan_clock 可以跑得快一点。如果 scan_clock 可以超过 functional clock,at-speed test 就不重要了。
很重要的一点是,一定要跑 sdf 反标后仿,把所有 vector 跑一遍,确认无误。 很多时候跑 sdf 反标后仿可以发现问题。

2. 我是做 design 的,片子回来在 bench 上做功能测试, pattern 交给 test engineer 在 ATE 上跑,通常都是没问题的。偶尔有一两次需要在 ATE 上 debug,也是其他原因,不是 scan。

3. 联系方式私信给你

点评

非常好的帖子,Jack真是一位好工程师+好导师,推荐一篇论文《基于CCM3108的可测性设计研究_施文龙》  发表于 2022-4-25 11:46
发表于 2022-4-23 14:37:47 | 显示全部楼层


752917622 发表于 2021-12-17 17:44
哇,老哥你真牛!!!!  想必你是经常做这种类型的scan chain吧!

按照你的方法加了wrapper,ATPG一跑 ...


mux是加到wrapper里面吗
如果是,那也是要弄一大堆input
如果不是,那mux是加哪里呢
发表于 2022-4-25 11:24:17 | 显示全部楼层
不错的贴子
发表于 2022-5-6 10:55:48 | 显示全部楼层


jake 发表于 2021-12-17 13:11
RTL 阶段插入 scan mux, scan loopback。
跑 TetraMAX 的时候写一个 digtop_tmax 或 chip_top,仅仅用于 ...


您好!你说的这个跑TetraMAX顶层例化调用生成spf怎么做的?前面插dft生成的spf中包括了from_analog和to_analog pin,这时候跑tetramax run_build_mode顶层的时候会报错,提示spf中的inout port signal不止顶层例化的5-6 scan port,所以不明白你是怎么解决的,我是通过dc综合insert_dft直接current_design顶层,写顶层的spf和netlist,再返回digital层写netlist,望指点!
发表于 2022-5-6 11:55:21 | 显示全部楼层


hmuing 发表于 2022-5-5 20:55
您好!你说的这个跑TetraMAX顶层例化调用生成spf怎么做的?前面插dft生成的spf中包括了from_analog和to_a ...


我提到的这个flow是自己写一个wrapper,digtop_Tmax。 这个digtop_Tmax里例化digtop。可以把digtop的netlist include进来,方便一些,后面只要把digtop_Tmax这一个文件给TetraMax就可以了。  
这个digtop_Tmax的IO只包括scan有关的信号。
随后把这个digtop_Tmax给TetraMax,生成spf。



发表于 2022-5-6 12:52:51 | 显示全部楼层


jake 发表于 2022-5-6 11:55
我提到的这个flow是自己写一个wrapper,digtop_Tmax。 这个digtop_Tmax里例化digtop。可以把digtop的netl ...


哦哦,你的spf是在tetramax中生成的,怪不得我之前用的这个方法是在dc中产生的spf,到了tetramax就报错了,那可以说一下你是怎么在tetramax中产生spf的么?
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