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[原创] TSMC_Applying_dynamic_voltage_stressing_to_reduce_early_failure_rate

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发表于 2021-11-13 15:00:58 | 显示全部楼层 |阅读模式

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TSMC论文结果表明,与非DVS组相比,DVS组的失效率下降了80%。DVS可以有效筛出早夭样品,提高产品可靠性。

TSMC_Applying_dynamic_voltage_stressing_to_reduce_early_failure_rate.pdf

491.04 KB, 下载次数: 25 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

DVS测试说明

发表于 2024-10-22 17:16:24 | 显示全部楼层
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