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查看: 2095|回复: 1

[原创] TSMC_Applying_dynamic_voltage_stressing_to_reduce_early_failure_rate

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eaglesmiling
发表于 2021-11-13 15:00:58 | 显示全部楼层 |阅读模式

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TSMC论文结果表明，与非DVS组相比，DVS组的失效率下降了80％。DVS可以有效筛出早夭样品，提高产品可靠性。

TSMC_Applying_dynamic_voltage_stressing_to_reduce_early_failure_rate.pdf

491.04 KB, 下载次数: 25 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

DVS测试说明
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cuiyu1981
发表于 2024-10-22 17:16:24 | 显示全部楼层
谢谢分享
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