芯片IO引脚的IV曲线能代表什么？

Jacky_peng

最近在做芯片测试的时候发现的问题。
首先，IOPIN管脚都会有两个保护二极管在引脚和VDD与VSS之间。IV曲线在ATE测试的时候时force电流的，但是在别的测试仪器上是force电压测测电流的。除非很明显的open和short，其他的问题比如leakage这种情况，他能反映什么问题吗？能够确定是保护二极管坏了还是哪里有问题吗？是与电源漏电还是与别的什么问题吗？请大佬帮忙解答。

randolpha

ESD protection

Jacky_peng

randolpha 发表于 2021-11-9 19:56
ESD protection

OK,如果IV曲线好坏对比，坏的芯片的曲线比好的提前达到限制电流，我们这时就会说有漏电产生，那么我们可否根据这个现象来说明是该PIN脚与电源漏电还是与地有漏电，亦或是只对地有漏电，对电源漏电实际上是电源对地也有漏电。我个人觉得IV曲线只是有一个现象，并不是能够说明 ESD Protection function 一定出现问题。怎么看？

WKshang

个人理解哈，FIMV方式，只是通过ESD二极管状态来表征晶圆制作或封装问题（OS），至于leakage，理论上是不通过ESD二极管来表征的，是反应IO的参数，可能会导致ESD问题

Jacky_peng

WKshang 发表于 2021-11-10 09:29
个人理解哈，FIMV方式，只是通过ESD二极管状态来表征晶圆制作或封装问题（OS），至于leakage，理论上是不通 ...

FIMV主要作用是测量IO引脚的保护二极管（封装问题）GET！。因为我不咋使用FIMV的方式，而且大部分用户使用的是FVMI的方式，这种方式能够直观的发现open和short的问题。但是如果曲线比正常的好品提前到达限制电流，这就是我们所说的有leakage，这样的测试条件下您的意思是不会通过保护二极管？还是说即使通过了也不会反映出保护二极管有问题。

WKshang

Jacky_peng 发表于 2021-11-10 15:49
FIMV主要作用是测量IO引脚的保护二极管（封装问题）GET！。因为我不咋使用FIMV的方式，而且大部分用户使 ...

怎么说呢，我的理解中，OS和leakage是两种不同的针对指标，无论是FIMV或是FVMI，VI曲线是可以反映出OS的，但对于leakage，若VI曲线因为leakage过大导致出现异常，那么则针对的是IO本身，而不是ESD二极管，这两个也是两种不同的测试参数

Jacky_peng

WKshang 发表于 2021-11-10 16:00
怎么说呢，我的理解中，OS和leakage是两种不同的针对指标，无论是FIMV或是FVMI，VI曲线是可以反映出OS的 ...

我懂你意思了。排除OS问题，如果有比较大的leakage，则优先考虑IO本身，而不是保护二极管。是这样的吧？

Jacky_peng

Jacky_peng 发表于 2021-11-10 16:34
我懂你意思了。排除OS问题，如果有比较大的leakage，则优先考虑IO本身，而不是保护二极管。是这样的吧？
...

同时感谢你的耐心解答。