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[讨论] SAR ADC输出频谱测试

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发表于 2021-9-14 09:50:43 | 显示全部楼层 |阅读模式

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为了验证除自举开关造成的非理想因素,将自举开关换成理想开关。在ADC输出接理想DAC,对理想DAC的输出频谱进行FFT。发现只有6.6bit,预定设计为8bit。计算几个DAC输出码发现都是正确的。
而且观察这个输出频谱,噪底为什么是波浪状?输入信号满足相干采样。理想DAC输出比原信号延时一个是时钟周期。
在采样开关理想的情况下,是比较器造成的影响吗?测试是在27,TT下进行的,CDAC阵列电容也为理想电容。

image.png

发表于 2021-9-14 10:39:04 | 显示全部楼层
是不是比较器的影响可以看输出波形,看在比较器的两个输入端相差很小时是否仍能正确比较,如果不是这个问题可以看一下电容阵列是否满足二进制,还有可能是比较器输入端的寄生电容影响的
发表于 2021-9-14 11:06:16 | 显示全部楼层
直接用 Measurements-->spctrum 看看加窗以后(比如hanning之类的)
 楼主| 发表于 2021-9-14 15:28:54 | 显示全部楼层
确实加窗之后,变成了7.8bit,想问下输入已经满足想干采样了,为什么输出频谱还需要加窗
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