【求助】关于带隙基准环路增益及相位裕度的问题

AdamLeeCN · 发表于 2021-9-7 13:54:47

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请教各位大佬们几个问题。
1.带隙基准中运放的增益和stb仿真的环路增益需要关注哪一个呢？对于同时存在正反馈和负反馈的带隙中，stb的环路增益仿真能说明什么呢？
2.stb的后仿真中从运放输出端断开环路后，部分工艺角的相位曲线变成了从0开始上升，然后在一定频率后与从180度开始下降的相位曲线的变化趋势合并，请问这个是什么原因呢？

AdamLeeCN · 发表于 2021-9-7 14:36:55

还请大佬们答疑解惑啊，感激不尽！

AdamLeeCN · 发表于 2021-9-8 09:22:36

有前辈解答一下吗~

AdamLeeCN · 发表于 2021-9-8 22:31:50

没有人解答吗...

dxy506562681 · 发表于 2023-3-29 14:35:19

对于部分工艺角的相位曲线变成了从0开始上升的问题，可以从版图上入手去解决。通过提参定位出影响相频曲线起点发生变化位置，在做进一步优化，有时候pin放置位置也会有影响。

m8510a · 发表于 2023-3-29 14:41:38

第一个问题不清楚，似乎运放都是高增益低带宽。第二个问题我也遇到了，有寄生电阻的话就会出现，不知道为什么。

Kevin_Ming · 发表于 2023-8-22 10:37:01

m8510a 发表于 2023-3-29 14:41
第一个问题不清楚，似乎运放都是高增益低带宽。第二个问题我也遇到了，有寄生电阻的话就会出现，不知道为什 ...

您好，请问第二个问题解决了吗？

good-game · 发表于 2023-8-22 10:44:42

你可以试试在运放的输入端加一个大电容。

lypp · 发表于 2024-9-25 10:28:43

您好，请问后来您解决了嘛？

wang.bin · 发表于 2024-9-25 10:43:29

STB仿真用的IPROBE器件吗？像带隙这种有正反馈和负反馈的需要用DIFFSTBPROBE来仿真。

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