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本帖最后由 thjan65 于 2021-8-17 20:36 编辑
最近工作接觸到一個 project. CHIP 內部有二個VDD, 必須對個別power domain 的module 進行 scan synthesis, 最後再把scan chain 串成一條. 以下是簡單說明. 歡迎提出意見討論.
U1使用 VDD1_SW電源. 控制信號為U2.VDD1_PDN
U1之Power On Reset 為POR_1
U2使用VDD2
U2之Power On Reset 為POR_2
VDD2為Always On. 因公司無 Low Power flow. 故使用U3 作為 Isolation cell.
當VDD1 不供電時或 VDD1_PDN為0時, U3 輸出為0. (除了dft 之 reset)
所有dft 信號均由U1解碼後, 透過U3 供U2使用
使用RTL DFTC DRC flow, 對 U2 處理
設定如下
set_scan_element false POR2_d0_reg
set_scan_element false POR2_d1_reg
set_dft_signal -view exist -type Constant -hookup_pin POR2_d0_reg/Q -active_state 1
set_dft_signal -view exist -type Constant -hookup_pin POR2_d1_reg/Q -active_state 1
set_dft_signal -view exist -type ScanEnable -port i_dft_se -active_state 1
set_dft_signal -view exist -type Reset -port i_dft_rstn -active_state 0
set_dft_signal -view exist -type ScanClock -port i_dft_clk -timing [list 45 55]
set_dft_signal -view exist -type Constant -port VDD1_flag -active_state 1
set_dft_signal -view exist -type Constant -port POR_2 -active_state 0
set_dft_signal -view exist -type TestMode -port i_dft_tm -active_state 1
set_dft_signal -view spec -type ScanDataIn -port i_scan_in -hookup_pin u2/o_scan_in
set_dft_signal -view spec -type ScanEnable -port i_dft_se -hookup_pin u2/o_dft_se
set_scan_configuration -stype multiplexed_flip_flop -clock_mix mix_clocks -chain_count 1
結果
block diagram
compile -scan 之前: no violaton
compile -scan 之後: TEST-202 (POR2_d0, POR2_d1 )
insert-dft 之後: TEST-202 (POR2_d0, POR2_d1)
TEST-505 (POR2_d0)
S19 (POR2_d1)
coverage_estimate: 80 % 以上
TETRAMAX Coverage: 10 % ~ 20%之間
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