在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 5048|回复: 21

[求助] LU测试结果出现分歧

[复制链接]
发表于 2021-8-16 14:48:54 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
事情是这样的,我们有一颗芯片在宜特做ESD、latch up。芯片有2个IO口latch up测试没过+50mA,另外过压测试没过5.5V,宜特使用的规范是JEDEC78D。
接下来将芯片移交给闳康,只做latch up和过压。如果fail那就做失效分析,结果闳康这两项都通过了。闳康用的规范同样是JEDEC78D。
这个结论让我们很迷惑,目前两家都会将芯片寄回给我们。不知道大家遇到过类似的事情没有,有什么建议?
发表于 2021-8-16 20:15:41 | 显示全部楼层
可能芯片刚好在临界点了,可以让弘康再将电流加大看是否pass或fail,样品也可以多做几颗.(可能他们的测试环境稍有不同)
 楼主| 发表于 2021-8-16 21:52:43 | 显示全部楼层


billgolden 发表于 2021-8-16 20:15
可能芯片刚好在临界点了,可以让弘康再将电流加大看是否pass或fail,样品也可以多做几颗.(可能他们的测试环 ...


闳康过了200mA和7.5V,宜特50mA挂了,5.5V也挂了
发表于 2021-8-17 09:26:37 | 显示全部楼层


lynker 发表于 2021-8-16 21:52
闳康过了200mA和7.5V,宜特50mA挂了,5.5V也挂了


这是测了几颗样品,差别有点大,得找下原因了。
发表于 2021-8-18 13:49:27 | 显示全部楼层
测试条件的不同会导致芯片处在的状态不同,导致测试结果不同,需要排查下测试条件是否一致
 楼主| 发表于 2021-8-18 18:58:28 | 显示全部楼层
收到一家寄回的芯片,后续会跟踪这个问题,目前情况比较棘手。
发表于 2021-8-19 16:18:18 | 显示全部楼层


lynker 发表于 2021-8-16 21:52
闳康过了200mA和7.5V,宜特50mA挂了,5.5V也挂了


或者可以试下,用在宜特的样品送到弘康测,交换一下样品,看结果是否一致。
发表于 2021-9-1 20:51:01 | 显示全部楼层


billgolden 发表于 2021-8-19 16:18
或者可以试下,用在宜特的样品送到弘康测,交换一下样品,看结果是否一致。
...


做过的样品不能用了吧
发表于 2021-9-2 09:23:11 | 显示全部楼层


xd_HR 发表于 2021-9-1 20:51
做过的样品不能用了吧


不是正式的,在样品没坏的情况下可以试一下。两家测试结果差别这么大,需要找下原因。
 楼主| 发表于 2021-9-2 11:32:37 | 显示全部楼层
跟大家汇报一下,暂时不知道闳康为什么测试通过了。宜特的失效芯片,目前通过热点定位latch up失效路径已经找到,下一步进行去层定位具体位置。后续进展会继续跟帖,谢谢大家的回复!
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-12-18 17:53 , Processed in 0.021105 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表