LU测试结果出现分歧

521lkh · 发表于 2021-10-18 17:16:58

您在上海？

my_8n · 发表于 2021-12-2 10:18:17

要他们的pre-和post曲线看看，很多时候偏曲线包络边缘的也算过的，实际上是有损伤的。

lynker · 发表于 2021-12-3 09:25:13

521lkh 发表于 2021-10-18 17:16
您在上海？

在西安

lynker · 发表于 2021-12-3 09:27:50

my_8n 发表于 2021-12-2 10:18
要他们的pre-和post曲线看看，很多时候偏曲线包络边缘的也算过的，实际上是有损伤的。 ...

多谢，目前两家给的回复是测试流程会有差异，测试人员操作方式会略有不同。按照最坏的测试结果分析即可。

xiongjf · 发表于 2021-12-17 13:36:45

宏康和宜特哪家做的更可性？

lynker · 发表于 2021-12-18 14:39:49

xiongjf 发表于 2021-12-17 13:36
宏康和宜特哪家做的更可性？

宜特。我们买了晶体管测试仪，芯片回来后自己可以提前测一下

18271571115 · 发表于 2022-2-9 17:34:19

楼主能否分享下本案例Latchup形成原因？

lynker · 发表于 2022-2-10 20:43:29

18271571115 发表于 2022-2-9 17:34
楼主能否分享下本案例Latchup形成原因？

电路如下，芯片内部总供电电路，RP,RM是芯片供电管脚，输入电源可颠倒。RP接电源RM接地，或者RM接电源RP接地，都可以。AVDD会输出高电平，AVSS会输出低电平给芯片内核供电。AVDD与AVSS是芯片内部电源与芯片外部无物理连接。红框中的N管出现了失效，测试发现栅源烧毁，源漏烧毁。版图严格按照Latch up设计规则设计，与RP和RM连接的P管与N管均按照ESD rule设计，拉宽了漏级并增加SAB层。

lynker · 发表于 2022-11-27 20:59:30

lynker 发表于 2022-2-10 20:43
电路如下，芯片内部总供电电路，RP,RM是芯片供电管脚，输入电源可颠倒。RP接电源RM接地，或者RM接电源RP ...

最终定版时，N管都使用了隔离管，latch-up也就彻底解决了。

u12u34 · 发表于 2022-11-29 09:41:28

因为latch-up测试有两种，一种是电压测试，另外一种是电流测试，有没有可能两家测试方对引脚的定义不同，一家把这两个引脚定义成IO了做的是电流测试，一家定义为电源引脚，做的是电压测试。而且看下报告确定一下电压测试用的多少电压，这个数值可能两边也不一样。

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