或许可以考虑两个方法:
1. 如果是Nyquist ADC, 可以通过多个test-bench并行仿真, 每个仿真扫描不同的输入电压范围, 这样可以减少总的仿真时间;
2. 采用通过频域的方法来评估INL, 对于任何bits的ADC所需的点数大约8192点就可以了. 感兴趣的话可以参考一下文献
Simple evaluation of the nonlinearity signature of an ADC using a spectral approach https://idus.us.es/handle/11441/70452