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[求助] 版图设计中的DRC规则检查LUP错误要怎么解决

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发表于 2021-1-26 17:39:22 | 显示全部楼层 |阅读模式

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版图画完了到最顶层包含pad的时候跑FULL CHIP DRC检查的时候会报LUP的错误。
具体是LUP.4错误,描述是说Within 15 um space from the OD injector, Minimum width for the N+ guard-ring, the P+ guard-ring, the N+ strap and the P+ strap ≥ 0.12um
这个问题该怎么解决啊?
我的理解是他需要把和pad相连的MOS以及周围15 um内的MOS都用guard-ring围起来,而且guard-ring的OD宽度要大于0.12 um,但是里面的子电路版图都已经画好了,改不动了,要怎么解决这个DRC问题呢?
求助大佬。


发表于 2021-1-26 18:09:38 | 显示全部楼层
保险起见还是要改。
芯片内部的LU和与PAD相连的LU的不同之处在于,内部的根据周边情况,你可以判断报LU的位置是否形成LU结构,周边是否存在触发条件,如果比较清晰的判断出没有问题那么这个error是可以waive的;但是跟pad相连的地方,板级信号是无法控制、不可预料的。建议改。

设计中确实会有类似的情况出现,建议楼主对电路工程师提出要求,在模块级就标注出最终连接到芯片pad的端口,在模块级验证时提前通过加mark层或者加pad(根据design rule或验证文件的写法)的方式,提前做好符合最终要求的模块级版图,避免后期的产生对全局造成影响的改动。

 楼主| 发表于 2021-1-26 18:55:04 | 显示全部楼层
谢谢大佬。我发现用一个power dummy layer框住pad,他就不会报LUP的DRC错了,这感觉是诈骗啊。

发表于 2021-1-28 11:12:19 | 显示全部楼层
我认为pad要区别对待,如果是power或ground pad,可以用你说的dummy layer罩住来忽略这个错误,其他的pad最好改掉。
发表于 2021-1-28 15:44:27 | 显示全部楼层


petit_citron 发表于 2021-1-26 18:55
谢谢大佬。我发现用一个power dummy layer框住pad,他就不会报LUP的DRC错了,这感觉是诈骗啊。

...


请参考Design rule 关于LUP相关的说明,应该是专门有一章讲LUP相关的设计。画版图先大致浏览design rule,不要上来就开画。除了用dummy layer 来定义电源pad,还有其他方式比如直接在DRC rule里面定义电源,并开启相关开关。
 楼主| 发表于 2021-1-28 18:56:23 | 显示全部楼层


pph_cq 发表于 2021-1-28 11:12
我认为pad要区别对待,如果是power或ground pad,可以用你说的dummy layer罩住来忽略这个错误,其他的pad最 ...


为什么power或gournd pad就不会有LUP问题,其他Pad就会有这个问题?我看了pdk文件的,它说pad分为vdd,vss和I/O三种类型,然后这个LUP问题是针对I/O pad连接的有源区进行检查的。我不是很懂。

发表于 2021-1-29 15:38:24 | 显示全部楼层


petit_citron 发表于 2021-1-28 18:56
为什么power或gournd pad就不会有LUP问题,其他Pad就会有这个问题?我看了pdk文件的,它说pad分为vdd,vss ...


这种rule一般是针对I/O device的,内部大部分器件都接了电源或地,如果不区别对待那么会把内部器件都当做I/O来check了。
发表于 2021-1-29 16:21:52 | 显示全部楼层


petit_citron 发表于 2021-1-26 18:55
谢谢大佬。我发现用一个power dummy layer框住pad,他就不会报LUP的DRC错了,这感觉是诈骗啊。

...


你这是单纯为了消错误,没有理会到这条规则的根本目的是为什么,有可能DRC报错消掉了,但是问题可能还在
LUP规则检查是为了防止IO端口发生latchup而设置的检查,但是具体问题具体分析,DRC文件给的只是一个参考,你自己确定没问题就不去管这个,这个规则我就一般不去管它,只要确定IO端口附近的保护做好了就行。

发表于 2021-1-29 16:25:24 | 显示全部楼层
与IO端口相连的MOS除了ESD器件就是内部电路的接触点,做好这两处地方的保护,确保不发生lathup损坏器件就OK了
发表于 2021-2-1 15:32:39 | 显示全部楼层
没猜错的话应该是TSMC的工艺。你试试让电路加个200欧的电阻处于pad和器件之间看看,记得盖上RES200这个layer
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