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[求助] scan慢速测试scan_se为0时需要check寄存器的setup/hold time吗?

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发表于 2020-10-25 22:57:50 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 fendate 于 2020-10-26 12:05 编辑

如题,请版主和各位网友帮忙解答。

看过scan慢速测试的信号波形,tese_en为0时,寄存器不再shift数据进来,寄存器Q端和PI的值通过组合逻辑稳定输出后,再通过一个capture pulse送到寄存器CP端,让寄存器的抓组合逻辑出来的结果,之后scan_en为1,把结果shift出去。感觉scan_en为0时寄存器setup和hold自然就能满足,不需要去check。
发表于 2020-10-26 00:09:25 | 显示全部楼层
关键在于 scan_se 变化的时候 scan_clock 是怎么控制的。pattern simulation 里可以看到的。

发表于 2020-10-26 09:58:38 | 显示全部楼层
不见得,在shift的时候,setup基本上不会是问题(即使有问题,大部分情况下也不会去修),主要就是hold容易出问题。因为clock skew的问题,Q到下一级的SI很容易出hold问题。
 楼主| 发表于 2020-10-26 12:35:27 | 显示全部楼层


kk2009 发表于 2020-10-26 09:58
不见得,在shift的时候,setup基本上不会是问题(即使有问题,大部分情况下也不会去修),主要就是hold容易 ...


抱歉啊,最后一句描述错误,让你误解了,其实是说scan_se为0时要不要check,也就是capture的时候。


 楼主| 发表于 2020-10-26 12:40:01 | 显示全部楼层
本帖最后由 fendate 于 2020-10-26 13:45 编辑


jake 发表于 2020-10-26 00:09
关键在于 scan_se 变化的时候 scan_clock 是怎么控制的。pattern simulation 里可以看到的。

...


确实是要看看实际仿真情况,其实如果在se为0的时候,capture完成后过一两个时钟周期再切se为1,这个capture过程的hold time应该是完全足够的吧。
发表于 2021-8-3 10:50:58 | 显示全部楼层
即使是stuck测试,scan capture期间是有可能产生2个或更多pulse的,那就需要检查setup和hold
发表于 2021-8-13 19:51:58 | 显示全部楼层
需要check hold,setup 可以通过加dummy cycle的方式增加其timging margin
发表于 2023-8-17 14:26:23 | 显示全部楼层


guiqix 发表于 2021-8-3 10:50
即使是stuck测试,scan capture期间是有可能产生2个或更多pulse的,那就需要检查setup和hold ...


你好,想请教下,capture 下产生多个 pulse一般是什么原因,最近遇到simulation ac scan下, reg的clk capture时有6个pulse
发表于 2023-8-17 14:55:34 | 显示全部楼层


超人不会飞Cc 发表于 2023-8-17 14:26
你好,想请教下,capture 下产生多个 pulse一般是什么原因,最近遇到simulation ac scan下, reg的clk ca ...


clock sequential或者multi-load pattern会有多个pulse,可能是由于non-scan 寄存器或者sram读写引起这种类型pattern,目的还是为了提高覆盖率和pattern效率
发表于 2023-8-17 17:18:47 | 显示全部楼层


guiqix 发表于 2023-8-17 14:55
clock sequential或者multi-load pattern会有多个pulse,可能是由于non-scan 寄存器或者sram读写引起这种 ...


谢谢。我再了解下
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