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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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muroanxfile019
发表于 2018-12-17 15:50:20 | 显示全部楼层
非常有用的文档，非常感谢您的分享！
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qncl
发表于 2018-12-23 20:53:33 | 显示全部楼层
感谢楼主分享
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发表于 2019-1-8 15:35:18 | 显示全部楼层
感谢分享~
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xylcool5
发表于 2019-1-16 18:47:42 | 显示全部楼层
回复 1# xhui


   感谢楼主分享
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jyuansea
发表于 2019-2-1 19:26:29 | 显示全部楼层
谢谢大家
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fuzhigang
发表于 2019-2-14 19:22:26 | 显示全部楼层
谢谢了
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yangke166
发表于 2019-3-28 19:59:18 | 显示全部楼层
谢谢分享！
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onlyking
发表于 2019-4-3 20:18:57 | 显示全部楼层
感谢楼主分享
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coke168
发表于 2020-11-30 12:26:41 | 显示全部楼层
好资料，谢谢分享！
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steven_sun
发表于 2021-1-15 15:59:23 来自手机 | 显示全部楼层
感谢
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