后仿真通过的pattern在ATE上测试出现错误

LCS527 · 发表于 2020-7-17 21:26:24

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用后仿真通过的Pattern在ATE上测试不通过，仿真时钟频率为10MHz，在ATE上采用1MHz的时钟都跑不过，在降频为0.4MHz就可以跑过。错误绝大部分为一条链的scan out，利用ATE产生的Fail.log和tessent Diagnosis工具定位错误类型为OPEN/DOM，Diagnosis报告如下图所示，求大佬解惑，谢谢！

phoenixson · 发表于 2020-7-18 10:59:34

瞬态功耗太大，一般平均功耗应该是可以满足的，这种情况下，一个是采取多个supply,ground,另外是加大芯片内部decap,另外就是实行dft partition，将shift, capture 时钟分开，不要同时动作

LCS527 · 发表于 2020-7-20 08:48:55

phoenixson 发表于 2020-7-18 10:59
瞬态功耗太大，一般平均功耗应该是可以满足的，这种情况下，一个是采取多个supply,ground,另外是加大芯片内 ...

谢谢大佬指点

，请问一下我可以在哪里找到相关的文档，谢谢！

phoenixson · 发表于 2020-7-20 09:14:37

LCS527 发表于 2020-7-20 08:48
谢谢大佬指点，请问一下我可以在哪里找到相关的文档，谢谢！

user guide ,应该很容易找到，但是我说的一些东西，都是经验性的

LCS527 · 发表于 2020-7-20 09:18:16

phoenixson 发表于 2020-7-20 09:14
user guide ,应该很容易找到，但是我说的一些东西，都是经验性的

好的，谢谢！

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