设为首页收藏本站

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

切换到宽版

手机号码，快捷登录

创芯云服务 : 创芯大讲堂 | 创芯人才网 | 数字IC职业培训 EETOP诚邀线上IC培训讲师!

搜帖子

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 讨论区 › 后仿真通过的pattern在ATE上测试出现错误

发新帖

查看: 2294|回复: 4

[求助] 后仿真通过的pattern在ATE上测试出现错误

发表于 2020-7-17 21:26:24 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

x

用后仿真通过的Pattern在ATE上测试不通过，仿真时钟频率为10MHz，在ATE上采用1MHz的时钟都跑不过，在降频为0.4MHz就可以跑过。错误绝大部分为一条链的scan out，利用ATE产生的Fail.log和tessent Diagnosis工具定位错误类型为OPEN/DOM，Diagnosis报告如下图所示，求大佬解惑，谢谢！

回复

发表于 2020-7-18 10:59:34 | 显示全部楼层

瞬态功耗太大，一般平均功耗应该是可以满足的，这种情况下，一个是采取多个supply,ground,另外是加大芯片内部decap,另外就是实行dft partition，将shift, capture 时钟分开，不要同时动作

回复支持反对

楼主| 发表于 2020-7-20 08:48:55 | 显示全部楼层

phoenixson 发表于 2020-7-18 10:59
瞬态功耗太大，一般平均功耗应该是可以满足的，这种情况下，一个是采取多个supply,ground,另外是加大芯片内 ...

谢谢大佬指点

，请问一下我可以在哪里找到相关的文档，谢谢！

回复支持反对

发表于 2020-7-20 09:14:37 | 显示全部楼层

LCS527 发表于 2020-7-20 08:48
谢谢大佬指点，请问一下我可以在哪里找到相关的文档，谢谢！

user guide ,应该很容易找到，但是我说的一些东西，都是经验性的

EETOP创芯人才网职位发布入口

回复支持反对

楼主| 发表于 2020-7-20 09:18:16 | 显示全部楼层

phoenixson 发表于 2020-7-20 09:14
user guide ,应该很容易找到，但是我说的一些东西，都是经验性的

好的，谢谢！

EETOP创芯人才网简历投递入口

回复支持反对

发新帖

高级模式

B Color Image Link Quote Code Smilies

您需要登录后才可以回帖登录 | 注册

本版积分规则回帖后跳转到最后一页

关闭

站长推荐 /2

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-22 00:34 , Processed in 0.017895 second(s), 7 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快速回复 返回顶部 返回列表