在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 2126|回复: 3

[讨论] 【讨论】对ESD失效判据,大家怎么定?

[复制链接]
发表于 2020-2-4 17:10:02 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
本帖最后由 browncoffee 于 2020-2-4 17:11 编辑

1. function(ATE)2. IV shift(wi. leakage)
3. IV shift(wi. leakage) + Function(ATE)

当成讨论帖,大家发表下意见

IV+function全pass才算pass么?还是只看function结果
发表于 2020-2-27 11:23:20 | 显示全部楼层
3. IV shift(wi. leakage) + Function(ATE) 两项都过才算PASS
 楼主| 发表于 2020-3-12 11:31:58 | 显示全部楼层


mars0904 发表于 2020-2-27 11:23
3. IV shift(wi. leakage) + Function(ATE) 两项都过才算PASS


从严来讲,你说的合理;
实际情况就是:业界没几家IC设计公司要这么去卡自己脖子

客户来讲,只关心功能是否正常,是否影响长期可靠性;
那是否讲,在ESD测试后,是否增加可靠性测试


发表于 2020-7-7 13:20:20 | 显示全部楼层
IV+function全pass才算pass么?还是只看function结果---------ESD测试只通过IV进行判定,pass or fail 都是需要客户回去进行ATE测试的,如果ESD测试过了,ATE也过了,那完美,如果ESD pass, ATE fail,这个你也不敢投产啊,如果ESD fail,那ATE也不用验证了,后期功能失效风险很大,ESD 测试,ATE 测试都过,是最安全的
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-12-25 00:04 , Processed in 0.015656 second(s), 7 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表