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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 芯片可测试性设计与ATPG
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[资料] 芯片可测试性设计与ATPG

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jiexi31
发表于 2019-10-17 10:55:04 | 显示全部楼层 |阅读模式

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芯片可测试性设计与ATPG: 74页PPT
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蛹中蝶OO
发表于 2019-10-17 11:05:47 | 显示全部楼层
好东西
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hjq1990
发表于 2019-10-17 11:08:03 | 显示全部楼层
很好的资料，有完整的整套吗？
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dcircuit
发表于 2019-10-17 19:53:37 | 显示全部楼层
kan kan
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wang610431
发表于 2019-10-21 15:39:13 | 显示全部楼层
学习下，看看是什么东西。
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knlam1001
发表于 2019-10-27 02:21:20 | 显示全部楼层
Thanks for sharing
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jcz_100
发表于 2019-11-5 23:46:57 | 显示全部楼层
谢谢分享！！！！
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hwc
发表于 2019-11-20 21:11:27 | 显示全部楼层
感谢！！！
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fox127
发表于 2020-1-10 12:26:47 | 显示全部楼层
thank you a lot
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大自然
发表于 2020-1-29 22:51:02 | 显示全部楼层
不错呀
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